STM PDF

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 35- Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах. IEC 60749-35:2006. Оригинальный стандарт IEC 60749-35-2006 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 36- Ускорение, устойчивое состояние. CEI/IEC 60749-36:2003. Оригинальный стандарт IEC 60749-36-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 37- Метод испытания на падение уровня платы с использованием акселерометра. IEC 60749-37:2022-10(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-37-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 38- Метод проверки программных ошибок для полупроводниковых приборов с памятью. IEC 60749-38:2008. Оригинальный стандарт IEC 60749-38-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 39- Измерение коэффициента диффузии влаги и растворимости воды в органических материалах, используемых для изготовления полупроводниковых компонентов. IEC 60749-39:2021-11(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-39-2021 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 4- Влажное тепло, устойчивое состояние, ускоренное испытание на воздействие нагрузок (HAST). IEC 60749-4:2017-03(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-4-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий