IEC 60749-37-2022 PDF
Название на английском:
St IEC 60749-37-2022
Название на русском:
Ст IEC 60749-37-2022
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 37- Метод испытания на падение уровня платы с использованием акселерометра. IEC 60749-37:2022-10(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-37-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37- Board level drop test method using an accelerometer. IEC 60749-37:2022-10(en-fr). Original standard IEC 60749-37-2022 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
48
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec03207
More technical details are being prepared for this document.