STM PDF

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 2- Низкое давление воздуха. CEI/IEC 60749-2:2002. Оригинальный стандарт IEC 60749-2-2002 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 2: Пониженное атмосферное давление. Оригинальный стандарт IEC 60749-2-2002 сor1-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 20-1- Обращение, упаковка, маркировка и транспортировка устройств поверхностного монтажа, чувствительных к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке. IEC 60749-20-1:2019-06(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-20-1-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 20- Устойчивость SMD-модулей в пластиковой капсуле к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке. IEC 60749-20:2020-08(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-20-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 21- Паяемость. IEC 60749-21:2011. Оригинальный стандарт IEC 60749-21-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-21-2025

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 22- Прочность связи. CEI/IEC 60749-22:2002. Оригинальный стандарт IEC 60749-22-2002 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен