JEDEC JESD22-A117E-2018 PDF
Название на английском:
St JEDEC JESD22-A117E-2018
Название на русском:
Ст JEDEC JESD22-A117E-2018
Описание на русском:
Испытания электрически стираемых программируемых ПЗУ (EEPROM) на ресурс циклов программирования/стирания и сохранность данных при воздействии нагрузок. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-A117E-2018 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program / Erase Endurance and Data Retention Stress Test. Original standard JEDEC JESD22-A117E-2018 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
24
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Stjedec000172
More technical details are being prepared for this document.