AS ISO 17560-2006 PDF
Название на английском:
St AS ISO 17560-2006
Название на русском:
Ст AS ISO 17560-2006
Описание на русском:
Химический анализ поверхности — Масс-спектрометрия вторичных ионов — Метод профилирования бора в кремнии по глубине. Оригинальный стандарт AS ISO 17560-2006 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth profiling of boron in silicon. Original standard AS ISO 17560-2006 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Утратил силу
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
21
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
Stasnz06095
More technical details are being prepared for this document.