STM PDF

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 38- Метод испытания прочности сцепления пасты из металлического порошка в соединении MEMS. IEC 62047-38:2021-06(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-38-2021 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 4- Общие технические условия для MEMS. IEC 62047-4:2008. Оригинальный стандарт IEC 62047-4-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 62047-4-2026

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 40-Методы испытаний порога микроэлектромеханического инерционного ударного выключателя. IEC 62047-40:2021-09(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-40-2021 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 41- RF MEMS циркуляторы и изоляторы. IEC 62047-41:2021-06(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62047-41-2021 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 42- Методы измерений характеристик электромеханического преобразования пьезоэлектрического кантилевера MEMS. IEC 62047-42:2022-09(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-42-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 43- Метод испытания электрических характеристик после циклической деформации изгиба гибких микроэлектромеханических устройств. IEC 62047-43:2024-03(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-43-2024 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий