STM PDF

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 32- Метод испытания нелинейной вибрации резонаторов MEMS. IEC 62047-32:2019-01(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62047-32-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 33- MEMS пьезорезистивное устройство, чувствительное к давлению. IEC 62047-33:2019-04(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-33-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 34- Методы испытаний пьезорезистивного устройства, чувствительного к давлению, MEMS на пластине. IEC 62047-34:2019-04(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-34-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 35- Метод испытания электрических характеристик при изгибной деформации гибких электромеханических устройств. IEC 62047-35:2019-11(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62047-35-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 36- Методы испытаний на стойкость к воздействию окружающей среды и диэлектрическую стойкость тонких пьезоэлектрических пленок MEMS. IEC 62047-36:2019-04(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-36-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 37- Методы экологических испытаний тонких пьезоэлектрических пленок MEMS для применения в датчиках. IEC 62047-37:2020-04(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62047-37-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий