UNE-EN 62374-1-2010 PDF
Название на английском:
STB UNE-EN 62374-1-2010
Название на русском:
СТБ UNE-EN 62374-1-2010
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Тест на диэлектрический пробой во времени (TDDB) для межметаллических слоев. Оригинальный стандарт UNE-EN 62374-1-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers. Original standard UNE-EN 62374-1-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
19
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stune07090
More technical details are being prepared for this document.