BS EN 62374-2007 PDF
Название на английском:
STB BS EN 62374-2007
Название на русском:
СТБ BS EN 62374-2007
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы. Тест на диэлектрический пробой во времени (TDDB) для пленок затворного диэлектрика. Оригинальный стандарт BS EN 62374-2007 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films. Original standard BS EN 62374-2007 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
24
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stbs20836
More technical details are being prepared for this document.