BS EN 62374-1-2010 (2011) PDF
Название на английском:
STB BS EN 62374-1-2010 (2011)
Название на русском:
СТБ BS EN 62374-1-2010 (2011)
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Тест на диэлектрический пробой во времени (TDDB) для межметаллических слоев. Оригинальный стандарт BS EN 62374-1-2010 (2011) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers. Original standard BS EN 62374-1-2010 (2011) in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
20
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stbs20835
More technical details are being prepared for this document.