ISO 5618-2-2024 PDF
Название на английском:
St ISO 5618-2-2024
Название на русском:
Ст ISO 5618-2-2024
Описание на русском:
Тонкая керамика (современная керамика, высокотехнологичная керамика) - Метод определения дефектов поверхности кристаллов GaN - Часть 2- Метод определения плотности ямок травления. Оригинальный стандарт ISO 5618-2-2024 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) - Test method for GaN crystal surface defects - Part 2- Method for determining etch pit density. Original standard ISO 5618-2-2024 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
32
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiso17870
More technical details are being prepared for this document.