ISO 23812-2009 PDF
Название на английском:
St ISO 23812-2009
Название на русском:
Ст ISO 23812-2009
Описание на русском:
Химический анализ поверхности - Масс-спектрометрия вторичных ионов - Метод калибровки глубины кремния с использованием нескольких эталонных материалов дельта-слоя. Оригинальный стандарт ISO 23812-2009 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials. Original standard ISO 23812-2009 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
26
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiso12707
More technical details are being prepared for this document.