ISO 23170-2022 PDF
Название на английском:
St ISO 23170-2022
Название на русском:
Ст ISO 23170-2022
Описание на русском:
Химический анализ поверхности - Профилирование по глубине - Неразрушающее профилирование по глубине тонких пленок наноразмерных оксидов тяжелых металлов на кремниевых подложках с использованием рассеяния ионов средней энергии. Оригинальный стандарт ISO 23170-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Surface chemical analysis - Depth profiling - Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering. Original standard ISO 23170-2022 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
36
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiso12269
More technical details are being prepared for this document.