ISO 17560-2014 PDF
Название на английском:
St ISO 17560-2014
Название на русском:
Ст ISO 17560-2014
Описание на русском:
Поверхностный химический анализ - Масс-спектрометрия вторичных ионов - Метод профилирования бора в кремнии по глубине. Оригинальный стандарт ISO 17560-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth profiling of boron in silicon. Original standard ISO 17560-2014 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
18
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiso07824
More technical details are being prepared for this document.