ISO 17331-2004 amd1-2010 PDF
Название на английском:
St ISO 17331-2004 amd1-2010
Название на русском:
Ст ISO 17331-2004 amd1-2010
Описание на русском:
Поверхностный химический анализ - Химические методы сбора элементов с поверхности кремниевых пластин в качестве рабочих эталонных материалов и их определения методом рентгеновской флуоресцентной спектроскопии полного отражения (TXRF) - Изменение 1. Оригинальный стандарт ISO 17331-2004 amd1-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Surface chemical analysis - Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy - Amendment 1. Original standard ISO 17331-2004 amd1-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
8
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiso07638
More technical details are being prepared for this document.