ISO 17109-2022 PDF
Название на английском:
St ISO 17109-2022
Название на русском:
Ст ISO 17109-2022
Описание на русском:
Химический анализ поверхности - Профилирование по глубине - Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, оже-электронной спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование по глубине распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок. Оригинальный стандарт ISO 17109-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Surface chemical analysis - Depth profiling - Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films. Original standard ISO 17109-2022 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
28
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiso07437
More technical details are being prepared for this document.