IEC 62526-2007 (IEEE 1450.1) PDF
Название на английском:
St IEC 62526-2007 (IEEE 1450.1)
Название на русском:
Ст IEC 62526-2007 (IEEE 1450.1)
Описание на русском:
Стандарт на расширения языка стандартного испытательного интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников. IEC 62526:2007. Оригинальный стандарт IEC 62526-2007 (IEEE 1450.1) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments. IEC 62526:2007. Original standard IEC 62526-2007 (IEEE 1450.1) in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
128
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
10 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec07144
More technical details are being prepared for this document.