IEC 62418-2010 PDF
Название на английском:
St IEC 62418-2010
Название на русском:
Ст IEC 62418-2010
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Испытание на пустоту под напряжением металлизации. IEC 62418:2010. Оригинальный стандарт IEC 62418-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Metallization stress void test. IEC 62418:2010. Original standard IEC 62418-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
38
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec06968
More technical details are being prepared for this document.