IEC 62374-2007 PDF
Название на английском:
St IEC 62374-2007
Название на русском:
Ст IEC 62374-2007
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для диэлектрических пленок затвора. IEC 62374:2007. Оригинальный стандарт IEC 62374-2007 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films. IEC 62374:2007. Original standard IEC 62374-2007 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
46
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec06899
More technical details are being prepared for this document.