IEC 62374-1-2010 PDF
Название на английском:
St IEC 62374-1-2010
Название на русском:
Ст IEC 62374-1-2010
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Часть 1- Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев. IEC 62374-1:2010. Оригинальный стандарт IEC 62374-1-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Part 1- Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers. IEC 62374-1:2010. Original standard IEC 62374-1-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
36
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec06898
More technical details are being prepared for this document.