IEC 62047-10-2011 cor1-2012 PDF
Название на английском:
St IEC 62047-10-2011 cor1-2012
Название на русском:
Ст IEC 62047-10-2011 cor1-2012
Описание на русском:
Поправка 1 - Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 10- Испытание на сжатие микростолбиков материалов MEMS. Оригинальный стандарт IEC 62047-10-2011 cor1-2012 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 10- Micro-pillar compression test for MEMS materials. Original standard IEC 62047-10-2011 cor1-2012 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
1
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec06306
More technical details are being prepared for this document.