IEC 60749-44-2016 PDF
Название на английском:
St IEC 60749-44-2016
Название на русском:
Ст IEC 60749-44-2016
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 44- Метод испытания однособытийного эффекта нейтронного луча (SEE) для полупроводниковых приборов. IEC 60749-44:2016-07(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-44-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44- Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices. IEC 60749-44:2016-07(en-fr). Original standard IEC 60749-44-2016 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
46
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec03215
More technical details are being prepared for this document.