STM PDF

Стабилизированное питающее устройство для измерения. Оригинальный стандарт IEC 60443-1974 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Утратил силу

Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в пи-сети - Часть 1- Базовый метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в пи-сети. CEI/IEC 444-1-1986. Оригинальный стандарт IEC 60444-1-1986 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Изменение 1 - Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в пи-сети. Часть 1- Базовый метод измерения резонансной частоты и резонансного сопротивления кварцевых кристаллов методом нулевой фазы в пи-сети. Оригинальный стандарт IEC 60444-1-1986 amd1-1999 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Измерение параметров кварцевого кристалла - Часть 11- Стандартный метод определения резонансной частоты нагрузки fL и эффективной емкости нагрузки CLeff с использованием методов автоматического анализа цепей и коррекции ошибок. IEC 60444-11-2010. Оригинальный стандарт IEC 60444-11-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60444-11-2026

Измерение параметров кварцевого кристалла методом нулевой фазы в пи-сети. Часть 2- Метод фазового смещения для измерения подвижной емкости кварцевых кристаллов. CEI/IEC 60444-2-1980. Оригинальный стандарт IEC 60444-2-1980 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Измерение параметров кварцевых кристаллов - Часть 5- Методы определения эквивалентных электрических параметров с использованием методов автоматического анализа цепей и коррекции ошибок. CEI/IEC 444-5-1995. Оригинальный стандарт IEC 60444-5-1995 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий