Yandex.Metrika counter

ГОСТ Р 71334-2024

ГОСТ Р 71334-2024

Название на английском:
GOST R 71334-2024

Название на русском:
ГОСТ Р 71334-2024

Описание на английском:

Epitaxial structures. Мethod for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference

Описание на русском:
Структуры эпитаксиальные. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире на основе инфракрасной интерференции

Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (PDF)

Количество страниц:
8

Срок поставки (английская версия):
2 рабочих дня(ей)

Срок поставки (русская версия):
1 рабочий день

Артикул (SKU):
GOST49426

Выберите версию документа:
3 000 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

ГОСТ Р ИСО 13053-1-2015
Статистические методы. Количественные методы улучшения процессов "Шесть сигм". Часть 1. Методология DMAIC
1 200 руб.
ГОСТ Р 52472-2005
Водки и водки особые. Правила приемки и методы анализа
1 200 руб.
ГОСТ Р ИСО 105-Е04-2014
Материалы текстильные. Определение устойчивости окраски. Часть Е04. Метод определения устойчивости окраски к поту
1 200 руб.
ГОСТ 24451-80
Тоннели автодорожные. Габариты приближения строений и оборудования
1 200 руб.
ГОСТ 21054-75
Патроны фрезерные для крепления инструмента с коническим хвостовиком. Конструкция и размеры
1 200 руб.
ГОСТ Р 57579-2017
Фитнес-услуги. Требования к специализированным фитнес-студиям
1 200 руб.