Yandex.Metrika counter

ГОСТ Р 71334-2024

ГОСТ Р 71334-2024

Название на английском:
GOST R 71334-2024

Название на русском:
ГОСТ Р 71334-2024

Описание на английском:

Epitaxial structures. Мethod for measuring the thickness of epitaxial silicon layers in structures of the silicon-on-sapphire type based on IR interference

Описание на русском:
Структуры эпитаксиальные. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев кремния в структурах типа кремний на сапфире на основе инфракрасной интерференции

Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (PDF)

Количество страниц:
8

Срок поставки (английская версия):
2 рабочих дня(ей)

Срок поставки (русская версия):
1 рабочий день

Артикул (SKU):
GOST49426

Выберите версию документа:
3 000 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

ГОСТ 1765-89
Шнуры и канатики льняные. Технические условия
1 200 руб.
ГОСТ 11792-74
Ложечки с ланцетами отделочные. Конструкция
1 200 руб.
ГОСТ ISO 11140-5-2011
Стерилизация медицинской продукции. Химические индикаторы. Часть 5. Индикаторы 2-го класса для тест-листов и тест-пакетов для испытаний на удаление воздуха
1 200 руб.
ГОСТ IEC 61010-2-051-2011
Безопасность электрических контрольно-измерительных приборов и лабораторного оборудования. Часть 2-051. Частные требования к лабораторному оборудованию для перемешивания и взбалтывания
1 200 руб.
ГОСТ 25645.156-91
Частицы заряженные квазизахваченные и высыпающиеся. Временные и энергетические характеристики
1 200 руб.
ГОСТ ИСО 8130-3-2006
Краски порошковые. Часть 3. Определение плотности с применением жидкостного пикнометра
1 200 руб.