Государственная система обеспечения единства измерений. Рефлектометры экстремального ультрафиолетового излучения для измерений характеристик многослойных наноструктур в диапазоне длин волн от 10 до 30 нм. Методика измерений
1 200 руб.
Задайте вопрос эксперту
Сообщение отправлено
Ваше сообщение отправлено. Наши специалисты скоро свяжутся с вами. Спасибо!