Система оценки качества электронных компонентов МЭК. Оценка соответствия плана управления электронными компонентами согласно МЭК 62239-1:2018, резюме доказательств соответствия и форма отчета об оценке
Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений оптической плотности (коэффициента пропускания) и мутности пластин и пленок из полимерных материалов