ГОСТ 26239.5-84

Наведите чтобы загрузить изображение

Название на английском:
GOST 26239.5-84

Название на русском:
ГОСТ 26239.5-84

Описание на английском:

Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination

Описание на русском:
Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Статус документа:

Действующий

Формат:

Электронный (PDF)

Количество страниц:

18

Срок поставки (английская версия):

1 рабочий день

Срок поставки (русская версия):

1 рабочий день

Артикул (SKU):

GOST30324

Пластмассы. Определение поведения жестких пластмасс при пробое под воздействием удара. Часть 2. Инструментальный метод

1 200 руб.

Парафины нефтяные жидкие. Определение ароматических углеводородов спектрофотометрическим методом

1 200 руб.

Установка поверхностно-монтируемых изделий на печатные платы. Методы конструирования

1 200 руб.

КАМАК. Термины и определения

1 200 руб.

Чистота промышленная. Установление норм промышленной чистоты при разработке, производстве и эксплуатации продукции

1 200 руб.

Подшипники качения. Ролики цилиндрические длинные. Технические условия

1 200 руб.