ГОСТ 26239.5-84

Наведите чтобы загрузить изображение

Название на английском:
GOST 26239.5-84

Название на русском:
ГОСТ 26239.5-84

Описание на английском:

Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination

Описание на русском:
Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Статус документа:

Действующий

Формат:

Электронный (PDF)

Количество страниц:

18

Срок поставки (английская версия):

1 рабочий день

Срок поставки (русская версия):

1 рабочий день

Артикул (SKU):

GOST30324

Также интересуются следующими документами

ГОСТ 19730-74

Тальк и талькомагнезит. Метод отбора и подготовки проб для лабораторных испытаний

1 200 руб.

ГОСТ 6485-69

Калибры для конической дюймовой резьбы с углом профиля 60°. Типы. Основные размеры и допуски

1 200 руб.

ГОСТ 2071-69

Зажимы для пожарных рукавов. Технические условия

1 200 руб.

ГОСТ Р 8.1002-2021

Государственная система обеспечения единства измерений. Стандартные справочные данные. Параводород жидкий и газообразный. Плотность, энтальпия, энтропия, изохорная, изобарная теплоемкости и скорость звука при температурах от 14 K до 1000 К и давлениях до 100 МПа

1 200 руб.

ГОСТ 23268.8-78

Воды минеральные питьевые лечебные, лечебно-столовые и природные столовые. Методы определения нитрит-ионов

1 200 руб.

ГОСТ 621-87

Кольца поршневые двигателей внутреннего сгорания. Общие технические условия

1 200 руб.