Yandex.Metrika counter

ГОСТ 26239.5-84

ГОСТ 26239.5-84
Наведите чтобы загрузить изображение

Название на английском:
GOST 26239.5-84

Название на русском:
ГОСТ 26239.5-84

Описание на английском:

Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination

Описание на русском:
Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Статус документа:
Действующий

Формат:
Электронный (PDF)

Количество страниц:
18

Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день

Срок поставки (русская версия):
1 рабочий день

Артикул (SKU):
GOST30324

Выберите версию документа:
1 200 руб.
Нужна помощь?

Также интересуются следующими документами

ГОСТ Р 70038-2022
Оптика и фотоника. Объективы для оптико-электронных систем. Методы измерений фокусного расстояния
1 200 руб.
ГОСТ 34820-2021
Мед натуральный. Метод определения остаточных количеств антибактериальных, антипаразитарных, противогрибковых препаратов с помощью высокоэффективной жидкостной хроматографии с масс-спектрометрическим детектором
1 200 руб.
ГОСТ Р 51415-99
Мука пшеничная. Физические характеристики теста. Определение реологических свойств с применением альвеографа
1 200 руб.
ГОСТ 8320.1-83
Профили периодические поперечно-винтовой прокатки трехступенчатые для валов электродвигателей. Сортамент
1 200 руб.
ГОСТ Р ИСО 24333-2011
Зерно и продукты его переработки. Отбор проб
1 200 руб.
ГОСТ 26794-85
Аппаратура радиоэлектронная бытовая. Названия видов и система их обозначения
1 200 руб.