ГОСТ 26239.5-84

Наведите чтобы загрузить изображение

Название на английском:
GOST 26239.5-84

Название на русском:
ГОСТ 26239.5-84

Описание на английском:

Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination

Описание на русском:
Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Статус документа:

Действующий

Формат:

Электронный (PDF)

Количество страниц:

18

Срок поставки (английская версия):

1 рабочий день

Срок поставки (русская версия):

1 рабочий день

Артикул (SKU):

GOST30324

Также интересуются следующими документами

ГОСТ Р 70038-2022

Оптика и фотоника. Объективы для оптико-электронных систем. Методы измерений фокусного расстояния

1 200 руб.

ГОСТ 34820-2021

Мед натуральный. Метод определения остаточных количеств антибактериальных, антипаразитарных, противогрибковых препаратов с помощью высокоэффективной жидкостной хроматографии с масс-спектрометрическим детектором

1 200 руб.