UNE-EN 62373-2006 PDF
Название на английском:
STB UNE-EN 62373-2006
Название на русском:
СТБ UNE-EN 62373-2006
Описание на русском:
Испытание стабильности при изменении напряжения и температуры для полевых транзисторов на основе металлооксидных полупроводников (MOSFET). Оригинальный стандарт UNE-EN 62373-2006 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET). Original standard UNE-EN 62373-2006 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
17
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stune07089
More technical details are being prepared for this document.