IEC 62373-2006 PDF
Название на английском:
St IEC 62373-2006
Название на русском:
Ст IEC 62373-2006
Описание на русском:
Испытание температурной стабильности смещения для металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET). CEI/IEC 62373:2006. Оригинальный стандарт IEC 62373-2006 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET). CEI/IEC 62373:2006. Original standard IEC 62373-2006 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
36
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec06897
More technical details are being prepared for this document.