IEC 62373-1-2020 PDF
Название на английском:
St IEC 62373-1-2020
Название на русском:
Ст IEC 62373-1-2020
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Испытание температурной стабильности смещения для металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET) - Часть 1- Быстрый испытание BTI для MOSFET. IEC 62373-1:2020-07(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62373-1-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1- Fast BTI test for MOSFET. IEC 62373-1:2020-07(en-fr). Original standard IEC 62373-1-2020 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
48
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec06896
More technical details are being prepared for this document.