IEC 62047-16-2015 PDF
Название на английском:
St IEC 62047-16-2015
Название на русском:
Ст IEC 62047-16-2015
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 16- Методы испытаний для определения остаточных напряжений пленок MEMS - Методы кривизны пластины и отклонения консольной балки. IEC 62047-16:2015-03(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62047-16-2015 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16- Test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods. IEC 62047-16:2015-03(en-fr). Original standard IEC 62047-16-2015 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
26
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec06312
More technical details are being prepared for this document.