IEC 62047-12-2011 PDF
Название на английском:
St IEC 62047-12-2011
Название на русском:
Ст IEC 62047-12-2011
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 12- Метод испытания тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации структур MEMS. IEC 62047-12:2011. Оригинальный стандарт IEC 62047-12-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12- Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures. IEC 62047-12:2011. Original standard IEC 62047-12-2011 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
64
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
5 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec06308
More technical details are being prepared for this document.