IEC 60749-38-2008 PDF
Название на английском:
St IEC 60749-38-2008
Название на русском:
Ст IEC 60749-38-2008
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 38- Метод проверки программных ошибок для полупроводниковых приборов с памятью. IEC 60749-38:2008. Оригинальный стандарт IEC 60749-38-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38- Soft error test method for semiconductor devices with memory. IEC 60749-38:2008. Original standard IEC 60749-38-2008 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
30
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec03208
More technical details are being prepared for this document.