IEC 60749-35-2006 PDF
Название на английском:
St IEC 60749-35-2006
Название на русском:
Ст IEC 60749-35-2006
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 35- Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах. IEC 60749-35:2006. Оригинальный стандарт IEC 60749-35-2006 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35- Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components. IEC 60749-35:2006. Original standard IEC 60749-35-2006 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
52
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
5 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec03205
More technical details are being prepared for this document.