IEC 60749-19-2010 PDF
Название на английском:
St IEC 60749-19-2010
Название на русском:
Ст IEC 60749-19-2010
Описание на русском:
Изменение 1 - Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 19- Прочность кристалла на сдвиг. Оригинальный стандарт IEC 60749-19-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19- Die shear strength. Original standard IEC 60749-19-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
18
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
2 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec03182
More technical details are being prepared for this document.