IEC 60749-14-2003 PDF
Название на английском:
St IEC 60749-14-2003
Название на русском:
Ст IEC 60749-14-2003
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 14- Надежность выводов (целостность выводов). IEC 60749-14:2003. Оригинальный стандарт IEC 60749-14-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14- Robustness of terminations (lead integrity). IEC 60749-14:2003. Original standard IEC 60749-14-2003 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
36
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec03177
More technical details are being prepared for this document.