IEC 60749-1-2002 PDF
Название на английском:
St IEC 60749-1-2002
Название на русском:
Ст IEC 60749-1-2002
Описание на русском:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 1- Общие положения. CEI/IEC 60749-1:2002. Оригинальный стандарт IEC 60749-1-2002 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Описание на английском:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1- General. CEI/IEC 60749-1:2002. Original standard IEC 60749-1-2002 in PDF full version. Additional info + preview on request
Статус документа:
Действующий
Формат:
Электронный (PDF)
Количество страниц:
24
Срок поставки (английская версия):
1 рабочий день
Срок поставки (русская версия):
3 рабочих дня(ей)
Артикул (SKU):
stiec03169
More technical details are being prepared for this document.