STM PDF

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 10: Механический удар. Оригинальный стандарт IEC 60749-10-2002 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-10-2022

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 10: Механический удар. Оригинальный стандарт IEC 60749-10-2002 сor1-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-10-2022

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 15- Устойчивость к температуре пайки для устройств, монтируемых через отверстие. Оригинальный стандарт IEC 60749-15-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-15-2020

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 17- Нейтронное облучение. Оригинальный стандарт IEC 60749-17-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-17-2019

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 18- Ионизирующее излучение (общая доза). Оригинальный стандарт IEC 60749-18-2002 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-18-2019

Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 20-1- Обращение, упаковка, маркировка и транспортировка устройств поверхностного монтажа, чувствительных к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке. Оригинальный стандарт IEC 60749-20-1-2009 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен Ст IEC 60749-20-1-2019