СТБ PDF

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - технология изготовления МЭМС на основе кремния. Метод измерения прочности на растяжение-сжатие и сдвиг в области микросклеивания. Оригинальный стандарт UNE-EN 62047-25-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - описание и методы измерения микротраншейных и игольчатых структур. Оригинальный стандарт UNE-EN 62047-26-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - стандартный образец тонкой пленки для испытаний на растяжение. Оригинальный стандарт UNE-EN 62047-3-2006 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - общие технические характеристики для МЭМС. Оригинальный стандарт UNE-EN 62047-4-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства - метод испытания на изгиб полоски для измерения прочностных характеристик тонких пленок. Оригинальный стандарт UNE-EN 62047-8-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Изменение 1 - Оборудование для учета электроэнергии (переменный ток): общие требования, испытания и условия испытаний. Часть 11: Измерительное оборудование. Оригинальный стандарт UNE-EN 62052-11-2004 A1-2018 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Заменен СТБ UNE-EN IEC 62052-11-2022