ISO 24173-2024 PDF

Полное наименование и описание

ISO 24173:2024 — "Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction" (Микропучковый анализ — Руководство по измерению ориентации с использованием электро́нной дифракции с обратным рассеянием). Документ даёт практические рекомендации для получения надёжных и воспроизводимых измерений кристаллографической ориентации методом EBSD: подготовка образцов, конфигурация и калибровка прибора, параметры съёмки и обработка данных.

Аннотация

Стандарт устанавливает методические указания для лабораторий и исследовательских групп, выполняющих измерения ориентации кристаллов с помощью EBSD. Цель — обеспечить сопоставимость результатов между оборудованием и лабораториями за счёт описания требований к подготовке образца, настройке микроскопа/детектора, процедурам калибровки, оценке качества карт ориентаций и оформлению отчётов.

Общая информация

• Статус: Опубликован (International Standard).
• Дата публикации: февраль 2024 (оперативная публикация 9 февраля 2024 по регистрациям библиотек).
• Организация-издатель: Международная организация по стандартизации (ISO), технический комитет ISO/TC 202.
• ICS / категории: 71.040.50 (методы физико‑химического анализа / микропучковый анализ).
• Редакция / версия: Издание 2 (2024), заменяет ISO 24173:2009.
• Количество страниц: 40 страниц.

Область применения

Стандарт применим к измерениям кристаллографической ориентации в образцах, подходящих для EBSD, в исследовательских и прикладных задачах: материаловедение (металлы, керамика), геология, контроль качества и анализ отказов, а также для калибровки и валидации приборных методик в лабораториях электронной микроскопии.

Ключевые темы и требования

• Требования к подготовке поверхности образца и полировке для получения качественных дифракционных образцов (pattern quality).
• Параметры съёмки: напряжение электронного пучка, рабочее расстояние, угол наклона образца, размер пучка и плотность точек сканирования.
• Калибровка системы: геометрическая искажённость детектора, калибровка углов и позиционирования для точного определения ориентации.
• Критерии индексации и фильтрации паттернов, оценка доли индексированных паттернов и ограничений при автоматическом индексировании.
• Оценка неопределённости измерений, пространственного и углового разрешения, требования к репрезентативности выборки.
• Обработка данных и отчётность: форматы результатов, параметры качества, метаданные измерений для воспроизводимости.

Применение и пользователи

Основные пользователи — специалисты по электронной микроскопии (SEM/EBSD), научно‑исследовательские лаборатории в области материаловедения, лаборатории контроля качества, инженеры по анализу отказов и стандартизации. Стандарт служит практическим руководством как для академических, так и для промышленных применений.

Связанные стандарты

Стандарт входит в экосистему документов по EBSD и микропучковому анализу. Ключевые связанные публикации и практики включают руководства по анализу мисориентаций и количественному определению фаз и аустенита (например, ISO 23703:2022 и ISO 23749:2022), а также практики ASTM по обработке данных EBSD (например, ASTM E2627). Непосредственно ISO 24173:2009 была прежним изданием, заменённым в 2024 г.

Ключевые слова

EBSD, electron backscatter diffraction, microbeam analysis, ориентация кристаллов, калибровка, подготовка образцов, индексирование, угловое разрешение, ISO 24173:2024.

FAQ

В: Что это за стандарт?

О: Это международный стандарт ISO, дающий практические рекомендации по измерению кристаллографической ориентации методом EBSD в условиях микропучкового анализа (ISO 24173:2024).

В: Что он регулирует?

О: Документ описывает требования и рекомендации по подготовке образцов, настройке и калибровке оборудования, параметрам съёмки, критериям качества паттернов, обработке данных и оформлению отчётов для обеспечения надёжных и воспроизводимых измерений ориентации.

В: Кто обычно использует?

О: Исследователи и инженеры в областях материаловедения, металлографии, геологии, лабораторий контроля качества и анализа отказов, а также производители и сервисные лаборатории, выполняющие EBSD‑исследования.

В: Он актуален или заменён?

О: ISO 24173:2024 — актуальное издание (опубликовано в феврале 2024), второе издание, которое заменяет прежнюю версию ISO 24173:2009.

В: Это часть серии?

О: Да. ISO 24173 связана с другими стандартами по микропучковому анализу и EBSD (например, ISO 23703:2022, ISO 23749:2022 и др.), формирующими совокупность руководств по измерениям ориентаций, мисориентаций и количественному определению фаз с использованием EBSD.

В: Какие ключевые слова?

О: EBSD, микропучковый анализ, ориентация кристаллов, индексирование, калибровка, подготовка образца, отчётность, воспроизводимость, ISO 24173:2024.