STM PDF

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 26- Описание и методы измерений микротраншейных и игольчатых структур. IEC 62047-26:2016-01(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62047-26-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 27- Испытание на прочность сцепления структур, связанных со стеклянными фриттами, с использованием микрошевронных испытаний (MCT). IEC 62047-27:2017-01(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-27-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 28- Метод испытания эксплуатационных характеристик виброприводных электретных устройств сбора энергии MEMS. IEC 62047-28:2017-01(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-28-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 29- Метод испытания на электромеханическую релаксацию отдельно стоящих проводящих тонких пленок при комнатной температуре. IEC 62047-29:2017-11(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-29-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 3- Стандартный образец тонкой пленки для испытаний на растяжение. CEI/IEC 62047-3:2006. Оригинальный стандарт IEC 62047-3-2006 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 30- Методы измерений характеристик электромеханического преобразования тонкой пьезоэлектрической пленки MEMS. IEC 62047-30:2017-09(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-30-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий