STM PDF

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 18- Методы испытания на изгиб тонкопленочных материалов. IEC 62047-18:2013. Оригинальный стандарт IEC 62047-18-2013 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 19- Электронные компасы. IEC 62047-19:2013. Оригинальный стандарт IEC 62047-19-2013 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 2- Метод испытания на растяжение тонкопленочных материалов. CEI/IEC 62047-2:2006. Оригинальный стандарт IEC 62047-2-2006 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 20- Гироскопы. IEC 62047-20:2014-06(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62047-20-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 21- Метод определения коэффициента Пуассона тонкопленочных материалов MEMS. IEC 62047-21:2014-06(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62047-21-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий

Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 22- Метод электромеханического испытания на растяжение проводящих тонких пленок на гибких подложках. IEC 62047-22:2014-06(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62047-22-2014 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу

Статус: Действующий